FE-300F 是日本 OTSUKA大冢電子 出品的臺式顯微分光膜厚監測儀（薄膜厚度監測儀）主打高精度、多層膜、非接觸測量，玉崎科學儀器現貨！

一、核心參數（FE-300F 標準型）

• ：OTSUKA 大冢電子（日本）
• 測量原理：反射分光法 / 白光干涉
• 波長范圍：300～800 nm（UV-Vis）
• 膜厚范圍：3 nm～35 μm（SiO?換算）
• 測量光斑：Φ1.2 mm
• 測量時間：0.1～10 秒
• 層數：*多 10 層膜
• 測量項目：膜厚、折射率 n、消光系數 k、反射率
• 尺寸 / 重量：280×570×350 mm / 24 kg
• 電源：AC 100–240 V

二、子系列（按波長 / 量程）

• FE-300F（標準）：300–800 nm，3 nm–35 μm
• FE-300UV（薄膜）：300–800 nm，10 nm–20 μm
• FE-300NIR（厚膜）：900–1600 nm，3 μm–300 μm

三、價格參考（2026 年 3 月，深圳）

• FE-300F（標準型）：
  • ￥180,000～220,000 / 臺
• FE-300UV / NIR：
  • +15%～30%
• 貨期：日本原裝，8–12 周

四、典型應用

• 半導體：氧化膜、氮化膜、光刻膠、SiC/GaN 外延膜
• 顯示 / 光學：ITO、AR / 增透膜、OLED、偏光 / 相位差膜
• 功能薄膜：硬涂層、防指紋、DLC、保護膜、PET/PC/PP 樹脂膜

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