> SD-5000特點
5nm波長間距之分光結構;
內建256個影像感測組件作光學系統之配置;
提供二種測定模式做搭配
-SCI(含正反射-適合測試金屬色,Ex metallic color)
-SCE(不含正反射-適合一般之物體色)
可記憶50筆數據;
依據規范:JIS Z8722,ISO 7724,DIN 5033,ASTM D2244,ASTM E308,ASTM E313
>SD-5000規格
光學條件:反射色測定-(d/8°或D/8°可切換) 透過色測定-(D/0°法)
Double – beam method
波長范圍:380-780nm(Diffraction Grating)
測試面積:?6mm,?10mm,?28mm(表面反射)或?25mm(透過測定)
標準光源:D65,C,A,F6,F8,F10(6種光源,12種模擬方式)
資料顯示:各種表色系統,HVC,APHA,Gardner,分色反射率(透過率),分光分布圖,偏光判定圖等
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5nm波長間距之分光結構;
內建256個影像感測組件作光學系統之配置;
提供二種測定模式做搭配
-SCI(含正反射-適合測試金屬色,Ex metallic color)
-SCE(不含正反射-適合一般之物體色)
可記憶50筆數據;
依據規范:JIS Z8722,ISO 7724,DIN 5033,ASTM D2244,ASTM E308,ASTM E313
>SD-5000規格
光學條件:反射色測定-(d/8°或D/8°可切換) 透過色測定-(D/0°法)
Double – beam method
波長范圍:380-780nm(Diffraction Grating)
測試面積:?6mm,?10mm,?28mm(表面反射)或?25mm(透過測定)
標準光源:D65,C,A,F6,F8,F10(6種光源,12種模擬方式)
資料顯示:各種表色系統,HVC,APHA,Gardner,分色反射率(透過率),分光分布圖,偏光判定圖等