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、光電元件、太陽(yáng)能電池、固態(tài)顯示和其它半導(dǎo)體器件的直流參數(shù)特性的測(cè)試。
在研發(fā)實(shí)驗(yàn)室,用370A來(lái)完成新器件、SPIEC參數(shù)的提取、失敗分析和產(chǎn)生數(shù)據(jù)報(bào)告這些具體的測(cè)試工作
在制造過(guò)程中,用370A檢驗(yàn)器件質(zhì)量及過(guò)程監(jiān)視。
370A可進(jìn)行來(lái)料檢查、器件性能測(cè)試、失效分析和器件配對(duì)這些測(cè)試工作。