涂層測厚儀 LEPTOSKOP 2042

產品描述

根據探頭的不同，手持式設備具有清晰排列的顯示屏，可確定可磁化基體上非磁性層的厚度（根據DIN EN ISO 2178）以及使用渦流原理確定非磁性導電基材上的非導電層的厚度 （根據DIN EN ISO 2360）。

外部探頭具有多種型號，因此可以解決*多樣化的測試問題。

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關鍵特點

多種校準選項

多種顯示模式，可*適應測量任務 *

極限值輸入和監控 *

測量值存儲 * 與 Windows 下一樣簡單的文件管理

多樣化的統計評估選項

Windows 程序中的數據傳輸，可選擇使用 PC 程序軟件 iCom 軟件或者EasyExport

*視擴展階段而定

版本

LEPTOSKOP 2042 (訂貨號: 2042.001)

設備擴展階段

模塊“ Statistik”（訂貨號：2911.001）

模塊“ Statistik und Datenspeicher”（訂貨號：2911.002）

標準包裝

Fe 基本包裝 (訂貨號: 2042.901)

NFe 基套裝(訂貨號: 2042.902)

Fe/NFE基套裝 (訂貨號: 2042.904)

統計數據包

統計數據包 Fe (訂貨號: 2042.911)

統計數據包NFe (訂貨號: 2042.912)

Fe / NFe組合統計軟件包 (訂貨號: 2042.914)

Data 數據包

Data數據包 Fe (訂貨號: 2042.921)

Data 數據包NFe (訂貨號: 2042.922)

Fe / NFe組合統計軟件包 (訂貨號: 2042.924)

The LEPTOSKOP 2042 在堅固的保護箱中

更多信息

詳細彩頁:

更多信息和附件:

涂層厚度測量配件

數據管理軟件ICOM

數據傳輸軟件EASYEXPORT