CSK-IIA試塊是依據承壓設備I型焊接接頭超聲檢測要求而設計的試塊，符合NB/T 47013.3-2015標準。相關信息如下：
用途：適用于斜探頭、直探頭檢測工件厚度范圍為6mm～200mm的I型焊接接頭，主要用于測定橫波距離-波幅曲線（DAC曲線）、斜探頭的K值和調整橫波掃描速度和靈敏度等。
分類：包括CSK-IIA-1、CSK-IIA-2、CSK-IIA-3三種試塊，不同試塊適用的檢測范圍不同。CSK-IIA-1適用于檢測厚度大于等于6mm至40mm的工件；CSK-IIA-2適用于檢測厚度大于40mm至100mm的工件；CSK-IIA-3適用于檢測厚度大于40mm至200mm的工件。
材料：選用電爐或平爐熔煉的碳素結構鋼，成分符合GB/T 699的要求，晶粒度7~8級。
在使用CSK-IIA試塊時，需根據具體的檢測要求和工件厚度選擇合適的試塊，并按照相關標準和操作規程進行操作，以確保檢測結果的準確性和可靠性。
CSK - IIA試塊在超聲檢測中用于測定橫波距離 - 波幅曲線、斜探頭的K值以及調整橫波掃描速度和靈敏度等。以下是其使用方法和注意事項：
使用方法
測定斜探頭K值：將斜探頭置于試塊上，使聲束軸線對準試塊上的特定反射體（如φ40mm、φ44mm、φ50mm的橫孔），通過測量反射波的位置和相關參數，計算出斜探頭的K值（K = tanβ，β為折射角）。一般來說，可將探頭在試塊上移動，找到橫孔反射波*的位置，此時根據儀器上顯示的聲程和探頭的前沿距離等數據，結合三角函數關系計算K值。
調整橫波掃描速度：利用試塊上的不同深度的反射體，如CSK - IIA - 1試塊上的φ1×6橫孔等，通過調整儀器的掃描參數，使反射波在熒光屏上的顯示位置與試塊實際尺寸相對應，從而實現橫波掃描速度的調整。例如，使試塊上某一深度的橫孔反射波出現在熒光屏上的特定刻度位置，以此來校準掃描速度，確保后續檢測中對缺陷位置的準確測量。
繪制距離 - 波幅曲線（DAC曲線）：在試塊上選取多個不同深度和距離的反射體，如CSK - IIA試塊系列中的不同規格試塊上的橫孔，分別測量這些反射體的反射波幅度，并記錄其對應的距離和波幅數據。然后，將這些數據繪制在坐標紙上，形成距離 - 波幅曲線。該曲線用于在實際檢測中根據缺陷反射波的幅度和距離來評定缺陷的大小和嚴重程度。
注意事項
試塊的選擇：根據被檢測工件的厚度，正確選擇CSK - IIA試塊的具體型號。如檢測厚度大于等于6mm至40mm的工件應選擇CSK - IIA - 1試塊，以確保試塊的尺寸和反射體分布能滿足檢測要求，保證檢測結果的準確性。
表面清潔與耦合：使用前要確保試塊表面清潔，無油污、鐵銹、灰塵等雜質，否則會影響探頭與試塊之間的聲耦合效果，導致檢測信號不準確。在檢測時，需涂抹適量的耦合劑（如凡士林、機油等），以減少探頭與試塊表面之間的空氣間隙，提高聲能傳遞效率。
探頭操作：放置探頭時要注意保持探頭與試塊表面垂直，且移動探頭時應平穩、緩慢，避免探頭跳動或傾斜，以保證聲束方向的穩定性和檢測結果的重復性。同時，要根據試塊的形狀和尺寸，合理選擇探頭的移動方式和路徑，確保能夠全面檢測試塊上的反射體。
儀器參數設置：在使用試塊進行檢測前，需根據試塊的特性和檢測要求，正確設置探傷儀的各項參數，如檢測范圍、增益、衰減等。參數設置不當可能導致反射波幅度不準確，影響K值測定、掃描速度調整和DAC曲線繪制的準確性。
試塊的維護：使用后要及時清潔試塊，并妥善保管，防止試塊表面劃傷、生銹或損壞。定期對試塊進行檢查，如有磨損、變形等情況，應及時更換或修復，以保證試塊的精度和可靠性。
物理特性EPOCH 650型儀器是一款輕重量、易攜帶的探傷儀，堅固耐用、靈活變通，幾乎適用于任何檢測應用。其主要物理特性如下：
標準套裝
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| 儀器的輸入/輸出 | USB端口 | USB（OTG）端口 |
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| RS-232端口 | 有 | |
| 視頻輸出 | 標準VGA輸出 | |
| 1個模擬輸出（可選），可選的1 V/10 V全標度，*4 mA | ||
| 報警輸出 | 3個報警輸出，5V TTL，10 mA | |
| 觸發器I/O |
觸發器輸入為5V TTL； 觸發器輸出為5V TTL，*10 mA |
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| 編碼器輸入 | 單軸編碼器線（正交，僅適用于腐蝕模塊模式） | |
| 環境評級 | IP評級 |
根據IEC 60529-2004標準（外殼防護等級– IP規范），帶有瀏覽鍵區的儀器設計符合IP67侵入保護評級標準，帶有飛梭旋鈕的儀器設計符合IP66侵入保護評級標準。 在新開發的產品正式投入生產以前，奧林巴斯要對產品的設計進行內部檢驗。這款儀器經測試證明符合IP評級標準。 |
| 爆炸性氣氛 |
通過美軍標準MIL-STD-810F方法511.4程序I中規定的測試，可在*防火協會規范（NFPA 70）500節I級2分段D組中定義的爆炸性氣氛中安全操作。 |
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| 撞擊測試 |
通過了美軍標準MIL-STD-810F方法516.5程序I中規定的測試，每個軸6個循環，15g，11 ms半弦波。 |
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| 振動測試 |
通過了美軍標準MIL-STD-810F方法514.5程序I附錄C圖6中的測試，一般暴露：每軸1小時。 |
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| 操作溫度 |
–10°C ～ 50°C |
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| 電池存儲溫度 |
0°C ～ 50°C |
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| 一般規格 | 體尺寸（寬 × 高 × 厚） | 236 mm × 167 mm × 70 mm |
| 重量 | 1.6公斤，包括鋰離子電池 | |
| 鍵區 | 英文、國際符號、日文、中文 | |
| 語言 | 英語、西班牙語、法語、德語、日語、中文、葡萄牙語和俄語 | |
| 探頭連接 | BNC接口或 LEMO接口 | |
| 數據存儲 | 機載100000個ID編碼，可插拔2 GB microSD卡（標準） | |
| 電池類型 | 單個標準充電鋰離子電池 | |
| 電池供電時間 | 15到16小時（鋰離子） | |
| 電源要求 | AC主電源：100 VAC ～ 120 VAC、200 VAC ～ 240 VAC，50 Hz ～ 60 Hz | |
| 顯示器類型 | 全VGA（640 × 480像素）透反彩色LCD，60 Hz更新速率 | |
| 顯示屏尺寸（寬 × 高，對角線） | 117 mm × 89 mm，146 mm（5.76 in.） | |
| 脈沖發生器 | 脈沖發生器 | 可調方波 |
| 脈沖重復頻率（PRF） | 10 Hz ～ 2000 Hz，增量為10 Hz | |
| 能量設置 | 100 V、200 V、300 V或400 V | |
| 脈沖寬度 | 25 ns ～ 5000 ns（0.1 MHz）范圍內可調，利用PerfectSquare技術 | |
| 阻尼 | 50、100、200、400 Ω | |
| 接收器 | 增益 | 0 ～ 110 dB |
| *輸入信號 | 20 V p-p | |
| 接收器輸入阻抗 | 400 Ω ± 5% | |
| 接收器帶寬 | 0.2 MHz ～ 26.5 MHz，–3 dB | |
| 數字式濾波器設置 |
30個標準數字式濾波器設置 7個符合ISO-22232:2010標準的濾波設置（0.2-10 MHz、2.0-21.5 MHz、8.0-26.5 MHz、0.5-4 MHz、0.2-1.2 MHz、1.5-8.5 MHz和5-15 MHz） |
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| 檢波 | 全波、正半波、負半波、射頻波 | |
| 系統線性 | 水平：±0.5% FSW（滿屏寬） | |
| 分辨率 | 0.25%滿屏高，放大器精度為±1 dB | |
| 抑制 | 0 ～ 80%滿屏高，帶有可視警告 | |
| 波幅測量 | 0 ～ 110%滿屏高，分辨率為0.25% | |
| 測量速率 | 在所有模式下，相當于脈沖重復頻率（PRF） | |
| 校準 | 自動校準 |
聲速，零位偏移 垂直聲束（*個底面回波，或回波到回波） 角度聲束（聲程或者深度） |
| 檢測模式 | 脈沖回波、一發一收或穿透 | |
| 單位 | 毫米、英寸或微秒 | |
| 范圍 | 3.36 mm ～ 13388 m，5900 m/s | |
| 聲速 | 635 m/s ～ 15240 m/s | |
| 零位偏移 | 0 μs ～ 750 μs | |
| 顯示延遲 | -59 mm ～ 13401 mm， 在鋼中縱波聲速下 | |
| 折射角度 | 0° ～ 90°，增量為0.1° | |
| 閘門 | 測量閘門 | ２個完全獨立的閘門，用于波幅和渡越時間（TOF）的測量 |
| 閘門起始 | 在整個顯示范圍內可變 | |
| 閘門寬度 | 在從閘門起點到顯示范圍的終點之間的區域內可變 | |
| 閘門高度 | 在2% ～ 95%滿屏高范圍內可變 | |
| 報警 | 正閾值和負閾值，*小深度（閘門1和閘門2） | |
| 測量 | 測量顯示位置 | 5個位置（手動或自動選擇） |
| 閘門（1和2） | 厚度、聲程、投射、深度、波幅、渡越時間、*小/*深度、*小/*波幅 | |
| 回波到回波 | 標準閘門2到閘門1，可選界面閘門跟蹤 | |
| 其他測量 | DGS/AVG的上沖值（dB）、DGS/AVG的ERS（等效反射體大?。?、AWS D1.1/D1.5的A、B、C和D值、抑制值、回波到參考dB值 | |
| DAC/TCG | 標準 | |
| DAC點 | 多達50個點，110 dB動態范圍 | |
| 特殊DAC模式 | 自定義DAC（*多6條曲線），20-80%視圖 | |
| 曲面校正 | 用于角度聲束測量的標準外徑或棒材校正 | |
| 腐蝕（可選） | 交叉零點測量算法、V聲程校正、單一回波、回波到回波、編碼B掃描 |
如果您在爆炸性環境中工作，那么您可以使用EPOCH 650 Ex探傷儀，因為這款探傷儀符合《防爆指令》中的要求。要了解更多信息，請閱讀有關《防爆指令》的常見問題解答。
? EP650-TEMPLATE (Q1400002)：模板存儲
? EP650-API5UE (Q1400003)：API 5UE缺陷定量
? EP650-AVERAGE (Q1400004)：波形平均
? EP650-IG (Q1400005)：界面閘門
? EP650-BEA (Q1400006)：底面回波衰減器（BEA）
? EP650-CORRSN (Q1400001)：腐蝕模塊（包含編碼B掃描）
? 600-BAT-L-2 (U8760058)：充電鋰離子電池
? EP4/CH (U8140055)：胸掛帶
? 600-TC (U8780294)：運輸箱
? CBAS-10668-0060 (Q7790012)：RS232通信線
? DSUB-HD15-6 (U8780333)：數字輸出線
? 600-C-VGA-5 (U8780298)：VGA輸出線
? MICROSD-ADP-2GB (U8779307)：2 GB microSD存儲卡
? 600-SC-K (U8780334)：軟便攜袋（飛梭旋鈕機型）
? 600-SC-N (U8779879)：軟便攜袋（瀏覽鍵區機型）
? N600-EXTALM (U8780332)：外置報警蜂鳴器
? CBAS-10669-0010 (Q7790008)：B掃描小車形編碼器電纜（10英尺，還可提供其他長度的電纜）
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